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采用GaN實現48V至POL單級轉換
企業服務器、交換機、基站和存儲硬件設計師都在尋求在其主板上提高功率密度和效率。隨著主板上元件數量的增加和外形尺寸的減小，電源密度成為進一步減小面積的限制因素。電源越小，主板尺寸就越小，減小主板尺寸就可以將更多的主板裝入給定的機架中，最大限度地提高數據中心吞吐量和性能。
2020-08-21
GaN POL 單級轉換
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ADI帶你解讀實現復雜電子系統低電磁干擾的若干應用場景
對于汽車、通信以及測試與測量設備等廣大系統制造商來說，技術的發展帶來了終端功能與性能的大幅提升，其根源在于系統中配備的功能愈加豐富的電子模塊。
2020-08-20
ADI 電子系統 電磁干擾
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基于射頻無線電傳輸供電的無電池資產跟蹤模塊監控系統
涉及精準定位和運輸數據的資產跟蹤模塊，非常適合組建無電池節點的無線傳感器網絡(WSN)。無電池的網絡節點幾乎可以部署在任何環境中，對維護工作的需求很少甚至沒有。
2020-08-20
射頻無線電傳輸 跟蹤模塊 監控系統 能量收集 無線充電
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Astera Labs全面提供適用于PCIe 4.0和5.0互連的Aries Smart Retimer
智能系統連接解決方案的先驅Astera Labs今日宣布其專為PCI Express? (PCIe?) 4.0架構設計的Aries Smart Retimer (PT4161L) 已投入量產，而專為PCIe 5.0架構設計的Aries Smart Retimer (PT5161L) 正積極與戰略合作伙伴及客戶進行樣片驗證。
2020-08-19
Astera Labs PCIe 4.0 Aries Smart Retimer
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ADC誤差是如何產生的？
本篇文章列出了影響模數轉換精度的主要誤差。這些類型的誤差存在于所有模數轉換器中，轉換質量將取決于它們的消除情況。STM32微控制器數據手冊的ADC特性部分規定了這些誤差 值。規定了STM32 ADC的不同精度誤差類型。為便于參考，將精度誤差表達為1 LSB的倍數。
2020-08-18
ADC誤差 模數轉換
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如何識別和防止7nm工藝失效
器件的良率在很大程度上依賴于適當的工藝規格設定和對制造環節的誤差控制，在單元尺寸更小的先進節點上就更是如此。過去為了識別和防止工藝失效，必須要通過大量晶圓的制造和測試來收集數據，然后對采集到的數據進行相關性分析，整個過程費時且昂貴。
2020-08-18
7nm工藝
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差分信號及差分放大電路有什么作用？
差分放大電路在數顯表應用很多，本文以圖文形式簡單介紹差分信號、單端信號的概念及差分放大電路的作用，方便大家對差分放大電路相關知識有所了解。
2020-08-14
差分信號 差分放大電路
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CCM與DCM模式到底有什么區別？
有人問CCM和DCM之間到底有何區別？要如何區分這兩種模式？之前在網絡上有看到一份關于CCM和DCM這兩者之間的判別及分析的材料，個人感覺講的還是比較到位的，所以分享出來，希望對大家有所幫助。
2020-08-14
CCM模式 DCM模式
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COT控制模式簡述：TI的DCAP系列
眾所周知，德州儀器一直以來就是排名第一的模擬大廠，其電源控制器和模擬信號鏈產品占據較大的份額。因此，非常有必要說一說 TI 的 DCAP 系列控制器，它被廣泛地應用在計算機、服務器以及存儲等領域。
2020-08-14
COT控制模式 TI DCAP控制器 恒定導通定時器 PWM
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