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百佳泰選力科測(cè)試套件完成USB3.0兼容性測(cè)試
力科公司宣布百佳泰測(cè)試實(shí)驗(yàn)室已選擇力科的USB 3.0測(cè)試套件來(lái)完成USB3.0的兼容性測(cè)試。百佳泰將利用LeCroy的測(cè)試設(shè)備為USB3.0制造商提供全面的物理層和協(xié)議層、發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的測(cè)試。除了USB3.0，力科將為百佳泰提供測(cè)試SATA和其它高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的完整解決方案。
2010-03-22
百佳泰 測(cè)試 力科 USB3.0 兼容性
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ACMD-7410/7609/7606：安華高推出新系列高隔離度FBAR雙工器
Avago Technologies(安華高科技)今日宣布推出三款新微型化高性能雙工器產(chǎn)品，適合Band 2、4和8頻帶手機(jī)和數(shù)據(jù)終端應(yīng)用。
2010-03-19
ACMD-7410/7609/7606 安華高 雙工器
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價(jià)格下跌加劇太陽(yáng)能市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)
據(jù)iSuppli公司，2010年全球光伏(PV)太陽(yáng)能系統(tǒng)裝機(jī)容量將會(huì)大幅增加，但系統(tǒng)部件的價(jià)格明顯下降，意味著業(yè)內(nèi)競(jìng)爭(zhēng)將會(huì)加劇。
2010-03-19
太陽(yáng)能 光伏 多晶硅 組件 裝機(jī)容量
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SP3010系列：Littelfuse發(fā)布高性能四通道二極管陣列
Littelfuse（力特）公司最近發(fā)布一個(gè)四通道二極管陣列系列SP3010，uDFN-10( 2.5x1.0x0.5mm)。
2010-03-19
SP3010系列 Littelfuse 二極管陣列 ROHS
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半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)盈利性處于10年來(lái)最佳水平
2009年第四季度，半導(dǎo)體供應(yīng)商的整體營(yíng)業(yè)利潤(rùn)率升至21.4%，為2000年第四季度達(dá)到24.7%以來(lái)的最高水平。由于全球經(jīng)濟(jì)衰退，半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)利潤(rùn)率在2009年第一季度降到負(fù)5.3%，但隨后持續(xù)大幅反彈。下圖所示為2000至2009年半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)各季度利潤(rùn)率情況。
2010-03-19
半導(dǎo)體 盈利性 芯片
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我國(guó)發(fā)展機(jī)器人產(chǎn)業(yè)時(shí)機(jī)來(lái)臨
隨著改革開(kāi)放30年，廣東GDP上升、勞動(dòng)力最低工資上升、高素質(zhì)勞動(dòng)力緊缺等因素，我國(guó)必須使用機(jī)器人來(lái)提高制造業(yè)產(chǎn)業(yè)附加值、提高產(chǎn)品品質(zhì)和保證質(zhì)量統(tǒng)一。工業(yè)機(jī)器人及數(shù)字化裝備發(fā)展面臨著前所未有的好時(shí)機(jī)。
2010-03-19
機(jī)器人 自動(dòng)化 控制
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適用于風(fēng)力發(fā)電機(jī)的可靠電力電子器件
本文介紹一種在中壓范圍內(nèi)得到更大風(fēng)力發(fā)電功率的方法。該方法使用變速中壓永磁發(fā)電機(jī)的線路接口連接，沒(méi)有任何電壓和功率限制，并且采用已經(jīng)證明有效的半導(dǎo)體器件和組件。將基本電力電子單元串聯(lián)以獲得更高的電壓，并聯(lián)以獲得更高的功率等級(jí)。
2010-03-19
風(fēng)力發(fā)電機(jī) 電子器件 永磁發(fā)電機(jī)
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匯聚全球領(lǐng)先的光電科技和顯示技術(shù)
部省市聯(lián)合鼎力打造“2010深圳光電顯示周”暨“深圳（國(guó)際）彩電節(jié)”部省市聯(lián)合鼎力打造“2010深圳光電顯示周”暨“深圳（國(guó)際）彩電節(jié)”
2010-03-18
部省市聯(lián)合鼎力打造“2010深圳光電顯示周”暨“深圳（國(guó)際）彩電節(jié)”
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新型元器件應(yīng)用和系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)應(yīng)對(duì)電磁兼容設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)
在即將于4月9日在深圳會(huì)展中心牡丹廳舉行的第四屆電路保護(hù)與電磁兼容技術(shù)研討會(huì)上，村田、太陽(yáng)誘電、3-test（蘇州泰思特）的專家將與聽(tīng)眾朋友們分享EMI和EMC的設(shè)計(jì)和測(cè)試難點(diǎn)和最新解決方案，此外，特邀嘉賓陶顯芳老師將分享降低EMI能量、提高EMC指標(biāo)的經(jīng)驗(yàn)。
2010-03-18
元器件 電磁兼容 研討會(huì) 村田 太陽(yáng)誘電 3-test EMI EMC
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