【導讀】在汽車、軍事、過程或工業(yè)應用等環(huán)境中使用的集成電路可能暴露于超過額定工作限制的條件。在電池監(jiān)控系統(tǒng)中，可能出現(xiàn)故障條件，并且過壓可能施加于這些IC。瞬變過壓條件甚至可能使傳統(tǒng)的CMOS開關經(jīng)歷閂鎖條件。閂鎖是一種在故障條件消除之后仍可能持續(xù)存在的不良高電流狀態(tài)，它可能導致器件故障。
通過結隔離技術，PMOS和NMOS晶體管的N和P井形成寄生硅控整 流器(SCR)電路。過壓條件可能觸發(fā)此SCR，導致電流被顯著放 大，進而引起閂鎖。
如果輸入或輸出引腳電壓之一超過供電軌一個二極管壓降以上， 或者電源時序控制不當，則可發(fā)生閂鎖。如果通道上出現(xiàn)故障， 且信號超過最大額定值，則故障可觸發(fā)典型CMOS器件的閂鎖狀 態(tài)。
電路上電期間，也可能在CMOS開關上電前產生輸入端電壓，特 別是使用多個電源為電路供電時。此條件可能超過器件的最大額 定值，并觸發(fā)閂鎖狀態(tài)。
ADG5408是防閂鎖型高壓8:1多路復用器。用于制造ADG5408的溝 道隔離技術可防止閂鎖狀態(tài)，并減少外部保護短路。防閂鎖不保 證過壓保護，僅表示開關會進入高電流SCR模式。ADG5408還具有 8 kV人體模型靜電放電(ESD)額定值(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2010)。
圖1中的電路顯示了用于電池監(jiān)控應用中的ADG5408。一個多路復 用器用于正引腳，另一個用于負引腳。此差分多路復用允許將單 個儀表放大器用于最多八個通道。這樣，放大器可以消除每個電 池的共模電壓。
圖1.電池監(jiān)控電路。
在設計和評估IC時，必須對其進行測試以評估其受閂鎖影響的可 能性。閂鎖測試期間，將應力電流施加于引腳1 ms，此操作稱為 觸發(fā)，觸發(fā)前后測量引腳上的電流。最大應力測試在開關斷開、 漏極(D)設為VDD且源極(S)設為VSS時執(zhí)行，如圖2所示。
圖2.閂鎖測試配置(觸發(fā)前)的常見變化。
接著源極電壓被驅動至超過VSS，直至達到所需的觸發(fā)電流。如果 未發(fā)生閂鎖，則引腳電流返回預觸發(fā)值。發(fā)生閂鎖后，引腳繼續(xù) 吸取電流，而不用觸發(fā)電壓驅動。只能通過關斷器件來停止。
圖3顯示典型CMOS開關(使用外延層)與ADG5408在接受閂鎖測試 時的結果對比。可以看出，此典型CMOS開關在−290 mA達到閂鎖 電流，而ADG5408不會發(fā)生閂鎖，除非測試結束于−510 mA。
圖3.閂鎖觸發(fā)后的電流比較。
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