【導(dǎo)讀】許多客戶想要自己測試他們收到的片式多層陶瓷電容(MLCC)，以驗(yàn)證其電容值。但測試結(jié)果可能不盡人意。那么，如何測量MLCC SMT電容的電容值？
其原因可能有以下幾點(diǎn)：
1. 在測試中，未正確進(jìn)行測量或未在指定的測量條件內(nèi)進(jìn)行測量.
2. 測試中所用的儀表設(shè)置可能不正確，或者使用的測量設(shè)備不足以準(zhǔn)確測量MLCC。
3. 這些物料不應(yīng)包含在所列的規(guī)格范圍中——點(diǎn)擊這里獲取更多信息。
以下是我們建議的測試步驟和檢查清單，以幫助工程師明確他們在測量過程中需要注意的內(nèi)容。
第 1 部分：測量要求
測量頻率和電壓對(duì)于正確測量陶瓷電容的值而言是非常重要的。請(qǐng)查看廠商和系列，并在規(guī)格書中找到你的電容，以確認(rèn)所需的測量頻率和電壓。
[建議的檢查清單]
測量頻率：_______________________ Hz
測量電壓：_______________________ V
第 2 部分：測量設(shè)備要求和設(shè)置
由于大多數(shù)萬用表無法進(jìn)行配置以滿足某個(gè)電容的特定測量條件，因此通常使用LCR表來測量MLCC電容值。盡量使用測量夾具，以便在測量過程中保持樣品的穩(wěn)定性。然后打開LCR表的自動(dòng)電平控制 (ALC) 功能。
圖1：打開ALC后，電壓電平顯示屏上就會(huì)出現(xiàn)“*”符號(hào)（了解為什么要打開ALC，點(diǎn)擊這里）
[建議的檢查清單]
是否使用夾具（是或否）：_______
是否打開自動(dòng)電平控制（ALC）（是或否）：_______
第 3 部分：加熱處理（去老化）
由于物理結(jié)構(gòu)的原因，2類（高介電常數(shù)）MLCC電容值會(huì)隨著時(shí)間的推移而逐漸減少。該屬性稱為電容的“老化” 現(xiàn)象。這就是為什么客戶有時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)其電容的電容值低于對(duì)應(yīng)的規(guī)格。一般來說，在150℃（+0/-10℃）下經(jīng)加熱處理（烘烤）1小時(shí)，并在室溫下冷卻24小時(shí)（+/-2小時(shí)）后，電容值可以恢復(fù)到所述規(guī)格。
因此在測量電容值之前，應(yīng)在150℃+0/-10℃下加熱電容1小時(shí)，并在環(huán)境空氣中將其冷卻24±2小時(shí)。（了解為什么只有2類電容需要去老化，可點(diǎn)擊這里）
[建議的檢查清單]
哪一類MLCC（1類-C0G或NP0/ 2類-除C0G或NP0以外的其他電容）：_______
該樣品是否在150℃+0/-10℃下加熱（烘烤）1小時(shí)，并在環(huán)境溫度中保持冷卻24±2小時(shí)？（是或否）：_______
來源： Digi-Key
